[1]
S. R. Gilbert, S. Hunter, D. Ritchey, C. Chi, D. V. Taylor, J. Amano, S. Aggarwal, T. S. Moise, T. Sakoda, S. R. Summerfelt, K. K. Singh, C. Kazemi, D. Carl and B. Bierman: J. Appl. Phys. Vol. 93 (2003), p.1713.
DOI: 10.1063/1.1534380
Google Scholar
[2]
J. K. Lee, M. -S. Lee, S. Hong, W. Lee, Y. K. Lee, S. Shin and Y. Park: Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 41 (2002), p.6690.
Google Scholar
[3]
C-H. Lee and J. -H. Yeom: Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 39 (2000), p.6716.
Google Scholar
[4]
D. Burgess, F. Schienle, J. Lindner, M. Schumacher, H. Juergensen, N. Solayappan, L. McMillan, C. A. Araujo, K. Uchiyama and T. Otsuki: Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 39 (2000), p.5485.
DOI: 10.1143/jjap.39.5485
Google Scholar
[5]
B. K. Moon, K. Hironaka, C. Isobe and S. Hishikawa: J. Appl. Phys. Vol. 89 (2001), p.6370.
Google Scholar
[6]
M. Miyake, K. Lee, S. Okamura and T. Shiosaki: Integr. Ferroelctr. Vol. 36 (2001), p.127.
Google Scholar
[7]
M. Miyake, K. Lee, S. Kawasaki, Y. Ueda, S. Okamura and T. Shiosaki: Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 41 (2002), p.241.
Google Scholar
[8]
Y. Ueda, N. Abe, Y. Otani, M. Miyake, S. Okamura and T. Shiosaki: Integr. Ferroelctr. Vol. 46 (2002), p.125.
Google Scholar
[9]
H. R. Kim, S. Jeong, C. B. Jeon, O. S. Kwon, C. S. Hwang, Y. K. Han, D. Y. Yang and K. Y. Oh: J. Mater. Res. Vol. 16 (2001), p.3583.
Google Scholar
[10]
Y. Otani, N. Abe, Y. Ueda, M. Miyake, S. Okamura and T. Shiosaki: Integr. Ferroelctr. Vol. 46 (2002), p.115.
Google Scholar
[11]
Ed. Nihon Shinku-gijutsu Co., Ltd., Shinku Handbook (Vacuum Handbook), (Ohm, Tokyo, 1992), Chap. 8, p.288 [in Japanese].
Google Scholar