AFM and SEM: Competing or Complementary Techniques?

Abstract:

Article Preview

Info:

Periodical:

Materials Science Forum (Volumes 414-415)

Edited by:

J. Gyulai

Pages:

241-252

Citation:

E. Kálmán et al., "AFM and SEM: Competing or Complementary Techniques?", Materials Science Forum, Vols. 414-415, pp. 241-252, 2003

Online since:

January 2003

Export:

Price:

$38.00

[1] von Ardenne, M.: Z Physik 109, 726 (1938).

[2] Barna P., Csanády A. né: Bányászati és Kohászati Lapok, Kohászat, 105, 489 (1972).

[3] Kálmán,E. US Patent 4071766 (1978); BRD Patent P 2513832 C2 (1981).

[4] Kálmán, E.: Microscopica Acta 82, 726 (1982).

[5] Binnig, G., Rohrer, H., Gerber, Ch, Weibel, E.: Applied Physics Letters 40, 178 (1982).

[6] Binnig, G., Quate, C. F., Gerber, Ch., Phys Rev Lett 56, 930 (1986).

[7] Binnig, G., Gerber, Ch., Stoll, E., Albrecht, T. R., Quate, C.: Surface Sci 189/190, 1 (1987).

[8] Balázsné, Bihari E., Kálmán E., Nagy P.: Válogatott fejezetek a m � szaki felülettudományból. M � egyetemi Kiadó, Budapest, 4. 80 (1998).

[9] Telegdi, J., Annus, S., Kálmán, E., Polyánszky, É., COST Workshop, Methods for Characterizing Pulp fibre and paper Surfaces Tome I, 1 (2000).

[10] Cullen, D.C., Lowe, Ch.R., J. Colloid and Interface Sci. 166, 102 (1994).

[11] Shimizu, K., Kobayashi, K., Sheldon, P. et al., Corrosion Sci., 39, 701 (1997).

[12] J. Telegdi, J. Beczner,.F.H. Kármán, Zs. Kersztes,E. Kálmán: NATO ASI Series, 1. Disarmament Technologies, 11, 177 (1997).

[13] Telegdi, J, Keresztes, Zs., Pálinkás, G., Kálmán,E. and Sand,W.: J. Appl. Phys. A 66, 639 (1998).

[14] Bremer, P.J., Geesey, G.G., Drake B., Current Microbiology 24, 223 (1992).

[15] Razatos, A, Ong, Z. -L., Sharma, M.M. et al., Proc. Nat. Acad. Sci. USA, 95, 11059 (1998).